MINITEST740

MiniTest 740涂層測(cè)厚儀
●SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加準(zhǔn)確
●EPK MINITEST740測(cè)厚儀可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
●FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
●溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
●生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高準(zhǔn)確度的特征曲線
●EPK MINITEST740測(cè)厚儀大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
●EPK MINITEST740測(cè)厚儀讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
●超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
●菜單指引操作，25種語言可選
●帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
●可下載更新軟件
●創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的準(zhǔn)確性
●測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
●FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)