泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO技術(shù)參數(shù)

泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO技術(shù)參數(shù)

SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術(shù)指標(biāo)：

量    程：200um

行    程：5mm

取樣長度：0.8mm   +/-15%

參    數(shù)：Ra：0.01um-40um 

Rz：0.1um-199um Rp、Rt、Rv

顯    示Ra:0.01um

精    度：Rz:0.1um

檢測方式：壓電式

尺    寸：125*80*38mm

重    量：200g

訂貨號：112-3115  

SURTRONIC DUO粗糙度儀  Ra Rz Rv Rp Rt

112-3115-10EX（防爆型） Ra Rz Rv Rp Rt

訂貨號：112-2916-03   Ra  Rz